Jedes Smartphone, jede Solaranlage, jeder moderne Sensor enthält sie: hauchdünne Materialschichten, teils nur wenige Atome dick. Sie bestimmen, wie gut ein Gerät funktioniert. Doch wer messen will, was in diesen Schichten wirklich passiert, stößt schnell an Grenzen. Ein neues Forschungsprojekt aus Dresden will das ändern.
Das Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS hat gemeinsam mit den sächsischen Unternehmen Credoxys und SweepMe! das Projekt "SMut" gestartet. Ziel ist ein neuartiges Messsystem für sogenannte Dünnfilme. Das sind extrem dünne Materialschichten, die etwa in organischen LEDs (OLEDs), also in modernen, biegsamen Bildschirmen, oder in dünnfilmbasierten Gassensoren eingesetzt werden. Bisher ist ihre Vermessung aufwendig und liefert nicht immer unter allen Bedingungen gleich verlässliche Ergebnisse.
Einfachere Bedienung, präzisere Messungen
Besonders praktisch soll die Software werden, die das Dresdner Unternehmen SweepMe! entwickelt. "Die Softwarelösung ermöglicht erstmals eine intuitive und out-of-the-box nutzbare Charakterisierungsplattform", sagt Dr. Axel Fischer, Geschäftsführer der SweepMe! GmbH. Das System soll somit sofort einsatzbereit sein, ohne lange Einarbeitung.
Credoxys, ein Unternehmen, das Materialien für OLEDs herstellt, erhofft sich von dem Projekt vor allem mehr Verlässlichkeit. "Der Aufwand, den wir derzeit in die Charakterisierung unserer OLED-Materialien stecken, ist enorm", bringt es Dr. Jörn Vahland, Materialentwickler bei Credoxys, auf den Punkt. "Mit diesem System wird ein neues Level der Dünnschichtcharakterisierung erreicht. Die Reproduzierbarkeit und die Messmöglichkeiten sind sensationell." Das Projekt wird aus Mitteln des Europäischen Fonds für regionale Entwicklung sowie aus Steuermitteln des Freistaats Sachsen finanziert.
